在燃料棒中心、径向位置和边缘三个不同位置对氙进行屏蔽电子探针微区分析 （EPMA）。X 射线元素图谱显示，边缘处的氙位于小气泡中，而在中心则分布均匀（除了晶界处）。通过屏蔽电子探针微区分析（EPMA）和屏蔽二次离子质谱（SIMS）获取了氙的径向分布曲线。
入已对两种不同含量的氙进行了定量分析：
溶解在燃料中的氙（电子探针微区分析仪（EPMA）的绿色线和二次离子质谱（SIMS）的黄色点）：在样品抛光过程中，氙气泡破裂导致氙蒸发。
燃料中氙的总含量（EPMA 的黑色线和 SIMS 的红色点）：通过定量分析钕（EPMA）以及测量基体信号和气泡峰（SIMS）得出。
电子探针微区分析（EPMA）和二次离子质谱分析（SIMS）为辐照燃料中氙的表征提供了互补信息：SIMS 能够表征深部的氙气泡（通过样品蚀刻），而 EPMA 则能为靠近表面的小气泡提供准确的信息。
数据来源：法国卡达拉舍的法国原子能委员会（CEA）
图片来源：图片由Karine Hanifi 和 Philippe Bienvenu提供
分析设备：SX100 - R 和 Actinis