原子探针断层分析术(APT)

原子探针断层分析术(APT)是唯一能够在原子尺度上进行三维映射和化学组分测量(深度分辨率约0.1-0.3纳米,横向0.3-0.5纳米)的材料分析技术,可提供广泛的功能。自早期开发以来,APT就为材料科学的重大进步做出了贡献。
  • Atom Probe Tomography
    APT介绍

    APT样品制备、数据收集、可视化和分析的基本原则。

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  • LEAP 5000
    LEAP 5000

    能够在金属、氧化物、陶瓷、半导体、生物矿物和地球化学研究中提供无与伦比的三维亚纳米分析性能的原子探针。

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  • EIKOS
    EIKOS

    可为研究和工业领域提供常规的高性能三维纳米分析的原子探针。

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