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两相合金的腐蚀研究

CAMECA动态二次离子质谱仪(D-SIMS)的扫描离子成像功能在工业合金上的腐蚀研究领域进行了应用探索。这些极具艺术性的图像,使我们能够将D-SIMS动态离子质谱仪的性能推广给相关的行业合作伙伴。


记录于法国萨克雷大学 (GEMaC CNRS/UVSQ Paris-Saclay, France), 设备:CAMECA IMS 7f,图片由Marie-Amandine Pinault-Thaury和 François Jomard提供