产品

  • SIMS
    SIMS

    我们的二次离子质谱仪堪称世界典范,结合了无与伦比的灵敏度和检出限(甚至包括轻元素)与高生产率。

    继续阅读
  • APT
    原子探针断层分析术(APT)

    原子探针断层分析仪器由CAMECA独家开发,为纳米级三维映射和组分测量提供了广泛的功能。

    继续阅读
  • EPMA
    EPMA

    我们的电子探针显微分析仪配备了业界领先的WDS波谱仪,以卓越的X射线成像和定量分析能力而著称。

    继续阅读
  • LEXES
    LEXES

    我们的组分计量工具被领先的半导体公司所采用,可支持14纳米及以上节点的创新,确保新工艺集成和大批量生产。

    继续阅读