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CAMECA是全球领先的微区分析和计量仪器供应商，主要服务于终端市场的研究和过程控制，包括半导体、纳米技术和先进材料、核科学, 绿色能源、生物学、环境学、采矿业及地质学。我们的仪器能以原子级分辨率测量元素和同位素的组成，，充分满足各大知名政府和科研院校实验室以及领先高科技工业公司的装备需求。

	SXFive-TACTIS : 使EPMA触手可及。自1950年开创电子探针微量分析以来，CAMECA已发布了几代产品，所有这些产品都被证明具有出色的分析性能和可靠性。新SXFive-TACTIS以此为基础，在用户友好的环境中提供增强的成像和定量分析功能。
	EIKOS - 用于研究和工业应用的原子探针 EIKOS平台提供更易于使用和低拥有成本的原子探针成像技术，可获取纳米级结构信息，使人们能够对研究材料有新的认识，并可快速、经济地开发工业应用合金。

EMAS 2019, Trondheim, Norway

19 五月 2019 - 23 五月 2019
16th European Workshop on modern developments and applications in microbeam analysis.
Multimodal Microanalysis Day, Cergy University, France

04 六月 2019
with EPMA workshop led by CAMECA.
2019, Shimla, India

07 六月 2019 - 09 六月 2019
International Conference on Electron Microscopy and Allied Analytical Techniques, organized by the Electron Microscopy of India (EMSI).
APT User Conference, Madison, USA

18 六月 2019 - 21 六月 2019
CAMECA invites the international Atom Probe Tomography community to its biennal conference intended to provide a forum for discussing and proposing action on a wide range of 3D atom probe topics.