APM

APM Software
应用于SIMS仪器的自动颗粒测量软件
使用APM进行离子成像的SIMS筛选是用于确定复杂成分基质中亚微米级颗粒的位置和同位素组成的唯一方法。

与CAMECA SIMS仪器完美集成

APM软件可兼容IMS 1280/1280-HR、NanoSIMS 50L和IMS 7f/6f-PC。有几个实验室已经成功地在他们的CAMECA离子探针上实施了APM,并且每天都在使用该软件进行铀颗粒分析以实现核防护目的。APM提升了他们的SIMS工具的通量和分析功能:

  • APM对整个样品进行快速筛选,以便在复杂成分的基质中找到感兴趣的颗粒。
  • APM提供了单个颗粒的同位素组成预估。


从核防护到微生物学

CAMECA IMS 1280/1280-HR为小颗粒分析提供了独特的灵敏度,是铀颗粒同位素分析的首选工具(1)。该仪器已广泛应用于核防护机构。使用APM进行离子成像的SIMS筛选是目前在其他材料的基质中寻找铀颗粒最高效的方法。使用同个仪器,在筛选后可立即对单个颗粒进行精确和准确的同位素微束测量。

APM也可应用于宇宙化学、环境研究、细胞和微生物学,或要求微米至亚微米颗粒/区域的位置和同位素测量能力的任何其他应用。

欲了解详情,请索取APM软件应用指南,或阅读P.M.L.Hedberg等人近期发表在《Journal of Analytical Atomic Spectrometry》杂志上的文章“利用SIMS改进亚微米级颗粒的位置和同位素筛选测量结果”(2010年11月26日在线版本,DOI:10.1039/c0ja00181c)。

(1)应用于核防护目的的经改进的铀颗粒同位素SIMS测量结果。Y.Ranebo, P.M.L.Hedberg, M.J.Whitehouse, K.Ingeneri和.Littman.J. Anal.At.Spectrom., 2009, 24, 277-287.