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EIKOS

原子探针可为研究和工业领域提供常规的高性能三维纳米分析。
基于原子探针断层分析仪器和应用领域30年的成功经验,CAMECA开发了EIKOS™原子探针显微镜,应用于合金的快速研制和纳米级材料研究。
  • 产品概述 +


    EIKOS原子探针提供了:

    • 具有纳米级微观结构表征的三维层析成像
    • 高效率的高空间分辨率单原子探测
    • 对所有元素及其同位素的灵敏度一致
    • 定量组分测量(亚纳米至近微米级)
    • 可提供电压或电压和激光配置
    • 标准样品制备方法


    EIKOS可提供2种配置:

    EIKOS
    基础EIKOS系统采用反射器设计,可提供出色的质量分辨能力和信噪比。预先对准的集成反电极确保易用性和高可靠性。电压脉冲系统在各种冶金应用中提供了非常高的数据质量。

    EIKOS-UV
    完全配置的EIKOS-UV系统结合了基础EIKOS(电压脉冲,基于反射功能,预对准反电极)的所有突出特性,并增加了一个完全集成的激光脉冲模块和计算机控制的焦斑设计,以适用于更大的应用范围。

    基础EIKOS系统可现场升级至EIKOS-UV。

  • 看看EIKOS原子探针能够做什么 +

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    • Introduction to applications & technology of EIKOS-UV

      星期二, 二月 25, 2020

      Optimized or efficiency and simplicity, EIKOS-UV™ delivers all the benefits of Atom Probe Tomography and addresses a wide range of applications: metals, coatings, thin films, ceramics, minerals, functional materials in both academic and commercial environments. Robert Ulfig (CAMECA) presents the main features and functionalities of CAMECA's latest atom probe tomography instrument.
      Register here to view at any time.
      Duration: 23 minutes
    • 星期一, 一月 1, 0001

    • 星期一, 一月 1, 0001

  • 视频 +

  • APT全球用户 +

  • 软件 +

    • IVAS Software
      IVAS

      IVAS专为CAMECA原子探针而开发,提供了强大的可视化和分析功能,可快速、轻松地提取APT仪器上收集的一维、二维和三维定量信息。

      继续阅读

  • 升级套件 +

    LEAP®的选项

    集成等离子清洁剂
    完全集成的自动化等离子清洁器可提高LEAP系统的生产率并降低拥有成本。

    剩余气体分析仪
    允许对LEAP仪器进行分压分析。 

    LEAP 5000 VCTM
    真空和冷冻转移模块(VCTM)使样品能够在LEAP和辅助工作站之间运输,同时保持UHV和低温条件。该模块使用与UHV兼容的便携式腔室,该腔室完全集成(通过扩展坞)到LEAP 5000.请注意,额外的工作站也必须与VCTM兼容,此选项不包括此项。有关详细信息,请联系CAMECA销售部门。

    生产力增强包
    扩展LEAP系统的存储容量,包括一个完全集成的原位加热转盘,以减少抽空时间,提高样品通量并改善真空质量。

    防振包
    主动隔振平台允许LEAP安装在不符合振动标准的环境中,该集成解决方案将主动振动消除与升级的LEAP平台相结合。获得专利的压电技术可实时消除地板振动,有效带宽从0.6Hz开始。

    抗震套件
    工厂安装的地震抑制套件。购买此选项必须满足最低要求。

    场离子显微镜(eFIM)模块
    为LEAP系统增加了场离子显微镜(FIM)功能

    LEAP®和EIKOS™的选项

    电子指针
    Simplex Electropointer(TM),用于生产电抛光LEAP样品。控制PC和蚀刻剂化学品不包括在内。

    手动电抛光器
    手动电解抛光装置旨在为从各种材料生产样品提供最大的灵活性。该项目包括电源,化学处理和制备高质量原子探针样本所需的所有附件。 (不包括光学显微镜和化学试剂。)

    Adv样品制备套件
    先进的标本制备套件包括先进的基于FIB的标本制备所需的关键组件。


  • Technical notes +