EPMA可执行高分辨率轻元素成像，用于研究各种金属和合金的互扩散行为。
The SXFive FE Electron Probe Microanalyzer (EPMA) performs high resolution light element mapping, allowing to study interdifusion behaviors in all kinds of metals and alloys.
动态SIMS被认为是用于可视化金属材料中H原子的局部分布的最有前景的技术之一，IMS 7f-Auto凭借出色的3D重建功能和无与伦比的轻元素检测限，成为氢脆研究的首选工具。
IMS 7f-Auto提供独特的深度剖析和离子成像功能，可用于研究合金中的包裹体及偏析效应。
同位素示踪剂通过NanoSIMS对表面附近的横截面成像来揭示活性氧化位点。即使在低浓度下，NanoSIMS也是用于映射轻元素（B、2H）的首选工具。
LEAP 5000和EIKOS原子探针为金属和合金晶界的纳米级化学分析和三维映射提供了独特的功能。