EPMA可执行高分辨率轻元素成像,用于研究各种金属和合金的互扩散行为。
SXFive FE电子探针显微分析仪(EPMA)可执行高分辨率轻元素成像,用于研究各种金属和合金的互扩散行为。
动态SIMS被认为是用于可视化金属材料中H原子的局部分布的具有前景的技术之一,IMS 7f-Auto凭借出色的3D重建功能和优质的轻元素检测限,成为氢脆研究的优选工具。
IMS 7f-Auto提供独特的深度剖析和离子成像功能,可用于研究合金中的包裹体及偏析效应。
同位素示踪剂通过NanoSIMS对表面附近的横截面成像来揭示活性氧化位点。即使在低浓度下,NanoSIMS也是用于映射轻元素(B、2H)的优选工具。
LEAP 5000和EIKOS原子探针为金属和合金晶界的纳米级化学分析和三维映射提供了独特的功能。