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网络研讨会--对具有连续成分梯度的氧化物薄膜进行 SIMS 分析

星期五, 十一月 15, 2024

我们的主讲人 Joseph Scola 在复杂氧化物领域拥有 20 多年的经验,他将与我们一起探索动态 SIMS 在薄膜分析中的应用。在本次网络研讨会上,他介绍了一项 D-SIMS 分析,该分析研究了在 LaNiSrO4/SrTiO3 叠层上通过组合 PLD 生长的 Ba1-xSrxTiO3 薄膜(约 250 nm)中的基质效应。

主要内容包括:
在原子电负性变化的驱动下,钛信号如何随着钡-锶替代而变化。
样品的复杂性导致质量干扰,以及用于识别和模拟这些干扰的方法。
使用原子力显微镜(AFM)和电子显微镜(TEM)进行深入的分辨率和界面分析,揭示界面上的原子混合和粗糙度。
 
本次网络研讨会非常适合对复杂氧化物、薄膜分析高分辨率材料表征感兴趣的人士。

如果您错过了本次会议,请点击下载简报获取主要信息:

下载研讨会简报

敬请期待研讨会的视频录制,届时我们将分享视频链接。

关于主讲人

 Joseph Scola at SIMS webinar Joseph Scola 博士是一位物理学家,在复杂氧化物领域拥有 20 多年的经验。他从法国鲁昂国家空间科学研究所(INSA-Rouen)应用数学专业和鲁昂大学电子专业毕业后,获得了卡昂大学凝聚态物理学博士学位。自 2007 年以来,他一直在巴黎-萨克雷大学/UVSQ 担任助理教授,在法国国家科学研究中心的 GEMaC 实验室 UMR 8635 领导有关电学测量、原子力和压电响应力显微镜以及二次离子 mas 光谱仪的研究。