在凝聚态物质中创建孤立且可控的量子系统的过程中，了解原子尺度的材料特性至关重要。关键性能参数，例如量子传感器灵敏度和量子比特保真度，与纳米级特性密切相关。我们最近的研究利用原子探针断层扫描 (APT) 技术，对半导体异质结构中的这些特性提供了前所未有的洞察。
APT 的关键洞察：
- 详细分析：APT 揭示了外延过程中锗的偏析，提供了其他方法无法获得的详细成分分析。
- 增强的量子比特操作：该分析增强了导带中的谷分裂，这对于高效的自旋量子比特操作至关重要。
- 卓越的同位素纯化：APT 实现了 50 ppm 的 29Si，最大限度地减少了量子比特的退相干，性能优于现有器件。
APT 的深入洞见对于推动量子计算发展至关重要，有助于增强我们对谷分裂和量子比特保真度等关键参数的理解。探索 APT 如何塑造量子技术的未来。
本应用报告由 Dominique Bougeard（德国雷根斯堡大学）和 Oana Cojocaru-Mirédin（德国亚琛工业大学和弗莱堡阿尔伯特-路德维希大学 INATECH 研究所）撰写。
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