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原子探针断层扫描 (APT) 能够提供对原子尺度材料的独特见解，但实现可重复性和减少样品中的伪影仍然是一个关键挑战。传统的基于镓的 FIB-SEM 仪器通常会引入诸如注入、扩散和非晶表面层等伪影，这会影响成分数据的准确性。
使用氙 (Xe) 离子的等离子体 FIB-SEM 系统可以通过减少离子与样品的相互作用并消除与镓相关的污染来缓解这些限制。束流整形和分辨率方面的最新进展现在能够制备出具有更高可重复性和更高通量的高质量 APT 尖端。
TESCAN AMBER X 2 中采用了最新一代等离子体 FIB 技术，进一步优化了束流参数，不仅提高了样品质量，而且显著简化了操作。这些进步使等离子体FIB工作流程更加直观易用，接近传统上与基于Ga的FIB-SEM相关的易用性。
本次网络研讨会由悉尼大学和CAMECA合作举办，将介绍TESCAN AMBER X 2等离子体FIB-SEM的功能。讨论将重点介绍近期提高APT样品制备精度的技术发展，并展示这些改进如何解决原子探针分析中长期存在的挑战。
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主要内容包括：
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了解TESCAN AMBER X 2中优化的Mistral™等离子体FIB柱如何实现高质量、无伪影的APT尖端制备；
- 了解减少损伤层如何提高原子探针断层扫描结果的重现性和准确性；
- 探索简化的工作流程，提高特定位置APT样品制备的通量和一致性；
- 深入了解与悉尼大学合作开发的实际应用和最佳实践。
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演讲嘉宾：
Martin Sláma
Tescan集团材料科学FIB-SEM解决方案产品营销经理
Martin Sláma担任Tescan集团材料科学领域FIB-SEM 3D表征和TEM薄片制备的产品营销经理，拥有超过八年的FIB-SEM仪器使用经验。在他的职业生涯中，他主要专注于使用TESCAN的等离子体FIB和Ga+ FIB-SEM解决方案进行传统和先进的TEM制备方法，以及通过FIB-SEM 3D断层扫描进行材料表征。在加入TESCAN之前，Martin曾在布尔诺理工大学、CEITEC和阿斯顿大学从事新材料开发和表征工作。
Felix Theska
高级技术员——原子探针样品制备，悉尼显微镜与微分析中心（悉尼大学）
作为悉尼大学悉尼显微镜与微分析中心的高级技术员，Felix Theska负责为研究人员提供原子探针断层扫描和透射电子显微镜的样品制备支持。在他的职业生涯中，他使用配备有Ga+、Xe+和Ar+离子束以及EDXS、EBSD和TKD等分析功能的FIB-SEM工具，进行相界、晶界、薄膜多层结构和纳米颗粒等特定区域的样品制备。在加入悉尼显微镜与微分析中心之前，Felix曾在悉尼新南威尔士大学（UNSW）担任博士后研究员，并在德国伊尔梅瑙工业大学担任研究助理。
Katherine Rice
APT应用经理，CAMECA
Katherine Rice博士是位于威斯康星州麦迪逊市的CAMECA仪器公司的应用经理。她拥有科罗拉多大学博尔德分校化学工程博士学位，并在美国国家标准与技术研究院（NIST）博尔德分院完成了NRC博士后研究。她的研究兴趣包括透射EBSD、纳米颗粒合成和原子探针断层扫描。